西門(mén)子星圖測(cè)試卡簡(jiǎn)介

TE253西門(mén)子星圖測(cè)試卡設(shè)計(jì)用于檢查分辨率。在圖像的中心，該圖表包含方形的徑向正弦調(diào)制西門(mén)子星,灰色補(bǔ)丁和黑色方塊內(nèi)有白色小的正方形。圖表的邊框有16個(gè)灰色補(bǔ)丁用于自校準(zhǔn)。邊角顯示更大的黑色方形，并有一個(gè)更小的白色正方形在它的內(nèi)部。西門(mén)子星可擁有144和72周期。兩組傾斜邊緣提供四個(gè)不同的調(diào)制（40％，60％，80％，100％）。

西門(mén)子星圖測(cè)試卡與ISO12233:2014標(biāo)準(zhǔn)是一致的。印刷在粗面紙上。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)

（1）Target allows multiple samples of MTF measurements to be taken from any point within the circumference of the circle.

（2）可以在Imatest軟件的星狀圖模塊上測(cè)量清晰度

（3）比起eSFR分析來(lái)說(shuō)西門(mén)子星狀圖對(duì)圖像處理不太敏感。

（4）有用于提高測(cè)試重復(fù)性設(shè)計(jì)的抵制噪點(diǎn)。

（5）包含用于對(duì)比的低對(duì)比度的水平和垂直方向的雙曲線(xiàn)。

（6）比起雙曲線(xiàn)在位置選擇上變化的差異小。

（7）可以從各個(gè)角度，如水平、垂直、徑向和切向等測(cè)量清晰度。

（8）包含用于自動(dòng)識(shí)別分析的標(biāo)識(shí)

西門(mén)子星圖測(cè)試卡尺寸